双侧公差限产品的合格概率计算方法
来源：计量学报杂志2018年第4期北京时间：
作者：黄富贵,刘志森,赵保生
单位：华侨大学 机电及自动化学院, 福建 厦门 361021
摘要：为了定量分析产品的合格性,在正态分布假设前提下,考虑参数测量结果测量不确定度的影响,建立了双侧公差限产品的合格概率计算模型,为批量产品和单件产品合格概率的定量计算提供了理论依据,同时给出了测量分析计算实例。结果表明:产品合格概率的定量计算结果,对于分析产品质量问题成因和提高产品质量具有重要的指导意义,给出的方法对单侧公差限设计要求的产品合格概率的计算同样具有参考价值。
关键词：计量学; 双侧公差限; 产品检验; 合格概率; 测量不确定度
基金资助：国家自然科学基金(51605171)
