一种基于射线照相的X射线衰减系数获得方法
来源：计量学报杂志2020年第11期北京时间：
作者：喻拓夏,奚清,杨丹
单位：中国工程物理研究院, 四川 绵阳 621900
摘要：提出了一种通过射线照相法计算X射线在物质中衰减系数的方法,通过简单实验以及计算快速获取不同能量X射线在物质中的衰减系数。设计实验找出了底片黑度与工件厚度的关系曲线,推导出表达式,并得出表达式的可信区间。用射线照相法实测了管电压为140、130、120kV时钢质台阶试块的X射线衰减系数与理论值对比,其标准误差＜3%,证明了该方法的可靠性。射线照相法求物质衰减系数计算简单、操作便捷、误差小,有望推广应用于材料中X射线衰减系数的估算。
关键词：计量学; X射线; 衰减系数; 射线照相法; 底片黑度
