MC模拟高纯锗探测器准直器对X射线能谱测量的影响

来源：计量学报杂志2021年第2期北京时间：

作者：文玉琴,赵瑞,吴金杰,赖万昌,王二彦

单位：1. 成都理工大学 核技术与自动化工程学院, 四川 成都 610059; 2. 中国计量科学研究院, 北京 100029;

摘要：为了研究不同限束光阑准直器对测量结果的影响,使用MCNP5蒙卡模拟软件建立带准直器的高纯锗探测器模型。通过模拟分析准直器各项参数对高纯锗探测器测量X射线能谱的影响,确立了准直器的最佳尺寸,为实验室使用高纯锗探测器测量X射线能谱提供一定的参考依据。计算了透射等效孔径(TEA)准直器指标,分析了高纯锗探测器测量X射线得到的探测效率。结果表明:对于能量小于80keV的低能量段X射线能谱测量,选择孔径小、屏蔽厚的准直器;对于80keV以上中高能量段的X射线应选择较大孔径的准直器,以避免由于从铅准直器中产生小角散射线和铅的特征线而影响X射线能谱的质量。

关键词：计量学;X射线能谱;高纯锗探测器;准直器;TEA;MCNP5

基金资助：国家重点研发计划(2017YFF0205101)