宽能平面型HPGe探测器能量刻度及MC模拟

来源：计量学报杂志2021年第11期北京时间：

作者：严永强,孙圣涛,吴金杰,金尚忠,赵瑞

单位：1. 中国计量大学光学与电子科技学院,浙江 杭州 310018; 2. 中国计量科学研究院,北京 100029;

摘要：为更好服务于环境辐射监测,通过标准放射点源241Am、133Ba、60Co、137Cs、152Eu对平面型HPGe探测器进行标定,分别获得不同特征能量下的探测效率、半高宽、道址等数据。数据处理后得到能量-道址函数、FWHM能量刻度函数、能量与探测效率关系,同时求得能量分辨率为1.58keV(60Co,1.33MeV)。通过对比发现,利用CT技术建立的MC模型更加可靠、高效。通过修正上、下死层厚度依次分段对模型探测效率进行校正,得到整体探测效率相对误差在5%以内,与实验结果符合较好。

关键词：计量学;辐射监测;HPGe探测器;能量刻度;MC模拟;死层厚度

基金资助：国家重点研发计划(2017YFF0205101)