基于网格的多目标模板匹配晶粒位置检测方法
来源：计量学报杂志2024年第5期北京时间：
作者：周书辰,陈晓荣,王子旋
单位：上海理工大学 光电信息与计算机工程学院,上海200093
摘要：针对传统方法中晶粒位置检测的耗时长、精度低等局限性,提出一种基于网格的多目标模板匹配晶粒位置检测方法。通过改进传统的模板匹配方法,结合非极大值抑制算法,将芯片晶粒的检测速度和精度提高。实验结果表明:该算法在单一同种晶粒的算法识别率能够达到97%以上,单张图像耗时＜200ms,能够克服明暗不同造成的检测困难,达到技术指标要求。
关键词：光电检测;晶粒位置检测;机器视觉;非极大值抑制;网格; 多目标模板匹配
基金资助：国家自然科学基金(52175513)
