Zn吸收边附近质量衰减系数测量

来源：计量学报杂志2024年第8期北京时间：

作者：舒子瑶,郭思明,周幸,黄仕葵,樊丽鹏,李知微,王振

单位：1. 成都理工大学,四川成都610059; 2. 中国计量科学研究院, 北京100029;

摘要：物质材料的光子质量衰减系数的准确值可为不同领域提供基本数据。由于单能X射线辐射装置能量连续可调、光子数可测,产生的X射线单能窄束,使其成为研究质量衰减系数(μ/ρ)的理想器件。研究了在8~20keV能量范围内,Zn样品在K吸收边附近(9~11keV),以0.1keV步长,基于单能X射线装置的质量衰减系数测量方法,并利用实验得到的测量值与NIST理论值进行比较分析。结果表明,在K吸收边跳跃附近会产生1个最大偏差,偏差在远离吸收边时会减小。实测曲线与NIST-XCOM及NIST-FFAST曲线基本一致,测量值与NIST-XCOM理论值最大偏差不超过10.51%。

关键词：电离辐射计量;质量衰减系数;吸收边;单能X射线

基金资助：国家科技基础条件平台项目(APT2301-7);中国计量科学研究院基本科研业务费(AKYZZ2115, AKYZD2412)