980 nm大光腔单发光条大功率LD失效分析
来源：激光与红外杂志2015年第4期北京时间：
作者：凌小涵，崔碧峰，张松，王晓玲，刘梦涵，何新
单位：北京市光电子技术实验室 北京工业大学，北京 100124；
摘要：采用大光腔结构、真空解理镀膜、腔面非注入区技术制备了980 nm单发光条大功率半导体激光器，其连续输出功率达到12 W。封装后测试，对于同一批量的180只器件进行可靠性测试，经过64 h电老化测试分析，功率基本未发生变化72只，综合成品率达到40%。对失效器件进行综合分析可得，此次试验中，镀膜后分离时产生的膜撕裂是激光器失效的主要原因。
关键词：激光器;大功率半导体激光器;老化测试;COD;镀膜
基金资助：国家自然科学基金（No.611006028）资助
