线列TDI型红外探测器组件坏元替代方法
来源：激光与红外杂志2015年第7期北京时间：
作者：郭亮
单位：华北光电技术研究所，北京 100015；
摘要：国产线列TDI型红外探测器组件在红外系统中的应用越来越广泛,但由于加工材料和制造工艺等因素的影响,探测器组件存在坏元,将造成图像质量下降,图像灰度分布失真,进而影响红外系统的性能。本文介绍了576×6 线列TDI型红外探测器组件的读出电路坏元替代方法,采用该方法可进行线列TDI型红外探测器组件通道内的坏元替代,提高图像质量。
关键词：TDI;红外探测器;探测器盲元
