10.6 μm脉冲激光对多晶硅探测器干扰损伤实验
来源：激光与红外杂志2015年第9期北京时间：
作者：王东
单位：中国洛阳电子装备试验中心,河南 洛阳 471003；光电对抗测试评估技术重点实验室,河南 洛阳 471003；
摘要：用10.6 μm脉冲CO2激光辐照多晶硅光电探测器,进行了干扰与损伤阈值实验研究,得到了对多晶硅探测器的干扰、损伤阈值；分析了不同干扰能量的干扰效果,研究了干扰损伤机理,依据受干扰程度对干扰等级进行了划分；通过干扰激光能量与干扰光斑面积的关系,重度饱和后探测器随时间恢复情况,探讨了各干扰等级下10.6 μm脉冲激光对红外成像系统的干扰效果。
关键词：多晶硅探测器;脉冲CO2激光;饱和阈值;损伤阈值;干扰等级
