红外焦平面读出电路成像重影问题的分析
来源：激光与红外杂志2017年第4期北京时间：
作者：马静
单位：华北光电技术研究所,北京 100015；
摘要：随着红外焦平面探测器广泛的应用,在实际成像中会出现一些新的问题。本文针对某款256×256规格的探测器成像出现重影问题,制定了相应的读出电路成像测试分析方案。从读出电路通道、主时钟频率、目标信号强度等方面全面分析该问题与读出电路的关系,并定位了重影问题的原因。
关键词：读出电路;重影问题;点光源测试;焦平面
《激光与红外杂志》发表论文赏析
作者：马静
单位：华北光电技术研究所,北京 100015；
摘要：随着红外焦平面探测器广泛的应用,在实际成像中会出现一些新的问题。本文针对某款256×256规格的探测器成像出现重影问题,制定了相应的读出电路成像测试分析方案。从读出电路通道、主时钟频率、目标信号强度等方面全面分析该问题与读出电路的关系,并定位了重影问题的原因。
关键词：读出电路;重影问题;点光源测试;焦平面
