多谱段线列红外探测器读出电路设计优化
来源：激光与红外杂志2017年第6期北京时间：
作者：王成刚
单位：华北光电技术研究所,北京 100015；
摘要：集成电路制造技术的发展使单芯片集成多谱段红外探测器成为可能，其中长线列红外探测器读出电路设计遇到的挑战之一就是寄生效应。针对一款多谱段长线列用读出电路在最小积分电容时行间输出电平差异显著,导致成像出现明暗条纹的现象进行了测试分析,得出复杂的电路版图寄生效应是主要原因。通过优化设计及流片验证,解决了寄生效应导致的成像明暗条纹问题。
关键词：多谱段集成;TDI线列;读出电路;寄生效应
