红外焦平面探测器成像中的重影现象
来源：激光与红外杂志2018年第4期北京时间：
作者：李娟
单位：华北光电技术研究所,北京100015；
摘要：在一款256×256中波红外探测器成像中,发现了成像重影,这种重影严重影响图像质量。特别是探测微弱目标时,对目标的识别和捕获会产生严重的干扰。本文介绍了专用红外焦平面点源实验平台,对成像重影的数据特性进行了分析,并通过机理分析和实验比较定位了引起成像重影的原因。成像重影是由于测试电路阻抗不匹配及带宽不够造成的,通过改进测试电路消除了这种重影。
关键词：红外焦平面阵列;成像重影;测试电路
