红外焦平面探测器杜瓦组件杂散辐射研究
来源：激光与红外杂志2018年第9期北京时间：
作者：林国画
单位：华北光电技术研究所,北京 100015；
摘要：在对红外焦平面探测器杜瓦组件杂散辐射分析的过程中,建立了分析模型,通过对模型进行光线追迹,找到了窗片、滤光片、冷屏、探测器芯片的反射是产生杂散辐射的原因。针对这些原因,采取了相应抑制杂散辐射的方式,包括通过镀膜降低窗片、滤光片反射率,通过发黑、设计多层隔板来提高冷屏的吸收能力,通过在探测器芯片上制作可靠性高的微纳结构来降低表面反射率等,起到了较好的效果。
关键词：杂散辐射;抑制;减反射
