短/中波双色碲镉汞红外焦平面探测器研究
来源：激光与红外杂志2018年第11期北京时间：
作者：王经纬
单位：华北光电技术研究所,北京 100015；
摘要：报道了基于分子束外延碲镉汞短/中波双色材料、器件的最新研究进展。采用分子束外延方法制备出了高质量的短/中波双色碲镉汞材料,并优化了材料的质量,材料表面缺陷密度控制在500个/cm-2以内,通过扫描电子显微镜可以看出各层之间界面陡峭,使用傅里叶红外变换光谱仪(FTIR)、X射线衍射(XRD)等方法对材料进行了表征,基于此材料制备出了短/中波碲镉汞双色器件,器件测试性能良好。
关键词：碲镉汞;短/中波双色;红外探测器;分子束外延
