线性阵列逆向调制器反射光强测试实验研究

来源：激光与红外杂志2021年第6期北京时间：

作者：张来线

单位：1.中国人民解放军战略支援部队航天工程大学电子与光学工程系,北京 101416；2.中国人民解放军战略支援部队航天工程大学研究生院,北京 101416；

摘要：为了分析逆向调制器的反射光场和反射光强的变化规律,利用532nm激光照射逆向调制器阵列,测试得到了离焦量、入射角变化时的逆向调制器的反射光场和反射光强,得到了阵列调制器反射光强与单个逆向调制器反射光强关系。测试结果表明,一定范围的正离焦使反射光束发散角变小,反射光能量聚焦度好,负离焦相反。入射角使反射光场发生畸变,反射光强与入射角成反比。离焦量为0或负离焦时,阵列调制器的反射光强是单个调制器反射光强的线性叠加。

关键词：逆向调制;线性阵列;光场分布;光强分布;离焦量;入射角