国产化背景下高精密光学双基站空间定位测量系统设计

来源：激光与红外杂志2024年第4期北京时间：

作者：许志强

单位：1.中国核工业二三建设有限公司,北京 101300；2.深圳普达核工业数字测控有限公司,广东 深圳 518120；

摘要：开展了基于近景摄影测量技术的国产化高精密光学双基站空间定位测量系统研发。文中主要提出了针对该系统的设计方案,从整体结构、相机、光源、二维转台、移动标靶、处理软件等方面进行系统设计,同时在设计研发基础上开展了实验测试,通过与目前高精密测量仪器激光跟踪仪进行精度对分析,实验数据表明了其最大偏差为02mm,满足主回路设备≤03mm的安装公差要求,验证了该系统能够较好地满足我国高精密测量仪器装备使用需求,在国产化替代方面具有一定的可行性。

关键词：精密测量仪器;光学;设计;精度对比分析