壳层厚度对核-壳结构PS-SiO<sub>2</sub>杂化颗粒压缩弹性模量的影响
来源：复合材料学报杂志2015年第4期北京时间：
作者：陈爱莲, 钱程, 苗乃明, 陈杨,
摘要：基于正负电荷间的静电作用制备了具有核-壳结构的聚苯乙烯-氧化硅(PS-SiO<sub>2</sub>)杂化颗粒, 通过调节正硅酸乙酯的用量对样品的SiO<sub>2</sub>壳层厚度进行控制。利用原子力显微镜(AFM)在微观尺度上测定杂化颗粒的力-位移曲线, 根据Hertz接触模型和Sneddon接触模型, 考查了SiO<sub>2</sub>壳层厚度对样品压缩弹性模量的影响。扫描电子显微镜(SEM)和透射电镜(TEM)结果显示, 杂化颗粒中PS内核尺寸为(197±9)nm, 壳层由SiO<sub>2</sub>纳米颗粒组成, 在本试验范围内杂化颗粒样品的壳厚为11~16 nm。在Hertz接触模型条件下, PS微球的弹性模量为(2.2±0.5) GPa, 其数值略低于PS块体材料。当SiO<sub>2</sub>壳厚由11 nm增至16 nm时, 杂化颗粒的弹性模量从(4.4±0.6) GPa增至(10.2±1.1) GPa, 其数值明显低于纯SiO<sub>2</sub>, 且更接近于PS内核。
关键词：复合磨粒, 杂化颗粒, 核-壳结构, 弹性模量, 原子力显微镜,
