一种基于FPGA的微处理器软错误敏感性分析方法

来源：电子与信息学报杂志2017年第1期北京时间：

作者：梁华国, 孙红云, 孙骏, 黄正峰, 徐秀敏, 易茂祥, 欧阳一鸣, 鲁迎春, 闫爱斌

单位：1.(合肥工业大学电子科学与应用物理学院 合肥 230009) ②(合肥工业大学计算机与信息学院 合肥 230009)

摘要：为了自动快速地分析微处理器对软错误的敏感性，该文提出一种基于FPGA故障注入的软错误敏感性分析方法。在FPGA芯片上同时运行有故障和无故障的两个微处理器，并充分利用FPGA的并行性，把故障注入控制、故障分类、故障列表等模块均在硬件上实现，自动快速地完成全部存储位的故障注入。以PIC16F54微处理器为实验对象，基于不同负载分别注入约30万个软错误用以分析微处理器软错误敏感性，并对敏感性较高的单元加固后再次进行分析，验证该方法的有效性。实验数据表明，使用该方法进行故障注入及敏感性分析所需的时间比软件仿真方法提高了4个数量级。

关键词：FPGA, 故障注入, 单粒子翻转, 软错误, 敏感性分析

基金资助：国家自然科学基金(61274036, 61371025, 61474036, 61574052)，安徽省自然科学基金(1608085MF149)