一种高效的混合Test-Per-Clock测试方法

来源：电子与信息学报杂志2017年第9期北京时间：

作者：刘铁桥, 牛小燕, 杨洁, 毛峰

摘要：该文提出了一种基于内建自测试(BIST)的Test-Per-Clock混合模式向量产生方法。测试由两个部分组成：自由线性反馈移位寄存器(LFSR)伪随机测试模式和受控LFSR确定型测试模式。伪随机测试模式用于快速地检测伪随机易测故障，减少确定型数据存储。受控LFSR测试模式采用直接存储在ROM中的控制位流对剩余故障产生确定型测试。通过对提出的BIST混合模式测试结构理论分析，提出了伪随机向量的选取方法以及基于受控线性移位确定型测试生成方法。基准电路的仿真结果表明，该方法可以获得完全单固定型故障覆盖率，其测试产生器设计简单且具有良好的稳定性，与其他方法相比，具有较低的测试开销和较短的测试应用时间。

关键词：IC测试, 内建自测试, Test-Per-Clock测试, 测试生成

基金资助：浙江省自然科学基金(LQ15F040005)