面向超大面阵CMOS图像传感器的全局斜坡一致性校正方法

来源：电子与信息学报杂志2024年第7期北京时间：

作者：许睿明, 郭仲杰, 刘绥阳, 余宁梅

单位：西安理工大学 西安 710048

摘要：针对大面阵CMOS图像传感器(CIS)中存在的斜坡信号不一致性问题，该文提出一种用于CMOS图像传感器的斜坡一致性校正方法。该误差校正方法基于误差存储和电平移位思想，在列级读出电路中引入用于存储各列斜坡不一致性误差的存储电容，根据存储的斜坡不一致性误差对各列的斜坡信号进行电平移位，确保斜坡信号的一致性。该文基于55 nm 1P4M CMOS工艺对提出的斜坡一致性校正方法完成了详细电路设计和全面仿真验证。在斜坡信号电压范围为1.4 V，斜坡信号斜率为71.908 V/ms，像素面阵规模为8 192(H)×8 192(V),单个像素尺寸为10 μm的设计条件下，该文提出的校正方法将斜坡不一致性误差从7.89 mV降低至36.8 μV。斜坡信号的微分非线性(DNL)为 +0.0013/–0.004 LSB，积分非线性(INL)为+0.045 /–0.02 LSB，列级固定模式噪声(CFPN)从1.9%降低到0.01%。该文提出的斜坡一致性校正方法在保证斜坡信号高线性度，不显著增加芯片面积和不引入额外功耗的基础上，斜坡不一致性误差降低了99.53%，为高精度CMOS图像传感器的设计提供了一定的理论支撑。

关键词：CMOS图像传感器, 列级固定模式噪声, 斜坡产生电路, 斜坡一致性校正方法

基金资助：国家自然科学基金(62171367)，陕西省重点研发计划(2021GY-060)，陕西省创新能力支持项目(2022TD-39)