一种新型NAND Flash坏块管理算法的研究与实现

来源：电子测量技术杂志2015年第11期北京时间：

作者：乔立岩，张鹏，魏德宝，王世元

摘要：本文在研究NAND Flash常用坏块管理方法的基础上，提出了一种基于FPGA的NAND Flash坏块管理方案。该方案运用坏块替换策略，将所有块分为数据块区和好块保留区，通过在FPGA片内RAM建立基于位索引的坏块位标记表BBT（bad block table）和块保留映射表RTT（reserved translate table）实现坏块的识别和替换，同时将两表保存于NAND Flash中，保证了坏块信息的非易失存储和坏块查询的高速性能。本方案全面考虑了坏块产生、坏块识别、坏块信息存储、坏块高速替换，是坏块管理的完整解决方案。经实验表明该方案具有坏块信息容量小、替换速度快、实现可靠等优点。

关键词：NAND Flash; 坏块管理; FPGA逻辑设计