用于ADC测试的数据采集系统的设计
来源：电子测量技术杂志2016年第10期北京时间：
作者：张丛丛
单位：北京微电子技术研究所北京100076
摘要：介绍了一种可用于百兆级采样率模数转换器（ADC）测试的数据采集系统，给出其硬件设计原理与方法，并简要介绍了上位机软件工作流程。该系统主要用于进行8位或16位100 MHz采样率ADC的动态参数的测试，采用FPGA+USB的形式。其中，FPGA负责对采集的数据进行缓存和传输，然后通过USB将数据上传到上位机中，最后利用上位机软件的控制算法实现对待测ADC参数的计算与显示，从而得出电路的测试结果。该系统性目前已用于日常电路测试，并取得了良好的效果。
关键词：动态参数; FPGA; SRAM; FIFO; 数据采集; USB
