基于EtherCAT的液晶驱动测试数字化管理技术

来源：电子测量技术杂志2016年第10期北京时间：

作者：刘春来

单位：北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

摘要：液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中，是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配的驱动芯片型号较多，单个型号芯片的测试项以及测试信号数量巨大，若使用人工记录的方式，则测试效率低下，管理成本高昂。有必要针对整个测试系统开发数字化管理技术，利用该技术可以将系统中所有的设备、人员、数据进行数字化管理。为实现数据交换的实时性和高效性，系统采用了工业以太网EtherCAT技术，实现服务器与设备客户端的紧密工作。经验证表明，通过使用这些技术，能够提高记录测试历史数据的方便性、快捷性、提高系统可扩展性，使得系统只需添加设备客户端或给客户端添加硬件模块并升级系统软件，便可方便的完成系统升级。

关键词：液晶显示驱动芯片;数字化管理;芯片测试;工业以太网

基金资助：北京市科学技术研究院科技创新工程项目（PXM2015_178102_000004）资助