紧耦合MIMO系统SVA室内衰落信道容量分析
来源：电子测量技术杂志2017年第8期北京时间：
作者：徐荣蓉
单位：河海大学计算机与信息学院 南京 211100
摘要：近年来MIMO系统的天线日渐趋于小型化，随之而来的紧耦合效应成为影响信道容量的主要因素。首先介绍了SVA室内衰落信道模型的建模方法，其次给出了天线间的耦合效应产生的原理，最后将耦合效应带入信道模型中，并且分析其在丰富的多径情况下不同天线间距对信道容量的影响。仿真结果显示天线耦合效应会导致信道容量减少，并且天线间距越短，耦合效应对信道容量的影响越大。
关键词：紧耦合;SVA;室内衰落信道;容量
