单粒子翻转效应及加固技术的测试研究

来源：电子测量技术杂志2019年第2期北京时间：

作者：张敏，孟令军，王志国，张皓威

摘要：针对高能粒子入射半导体材料引发的辐射效应，从实验平台的设计对地面辐射试验进行了研究。通过对单粒子翻转效应的分析，完成评估方式的制定。实验平台通过建立数据采集系统、数据分析系统，同时考察4种SRAM型的FPGA芯片在不同辐射源以及不同强度下对单粒子产生的影响。通过辐照试验，验证了试验方法、试验系统的有效性和可靠性，并掌握了试验数据的处理方法。实验结果表明，在高强度的辐照下，单粒子翻转效应显著增多，需要采取防护措施及时修正，对FPGA芯片的使用以及选型具有参考价值。

关键词：单粒子效应;地面辐射实验;实验平台;加固技术

基金资助：国家自然科学基金杰出青年基金（51425505）项目资助