《电子测量技术杂志》发表论文赏析
作者:郭姣艳,孙然,李文宇,赵国忠,吴晓华
单位:1.首都师范大学 物理系 北京 100048;2.北京市成像理论与技术高精尖创新中心 北京 100048;3.太赫兹光电子学教育部重点实验室 北京 100048;4.昆明物理研究所 昆明 650223
摘要:硫化锌(ZnS)是一种被广泛使用的光学薄膜材料,因为其透光区宽,易于沉积等特点被广泛用于制作宽光谱薄膜器件。本文利用太赫兹时域光谱技术(THz—TDs)对硫化锌进行太赫兹光谱特性检测。通过实验分析并进行光学参数计算,得到硫化锌在0.2—2.4 THz频段内透过率随着频率增大而增大,折射率在2.88-2.94之间(相较于可见光波段大些),从吸收谱看,ZnS在0.23、0.39、0.81、2.06 THz处存在吸收峰;且介电常数的实部在8.3-8.7之间,虚部在0-0.08之间,该研究为硫化锌材料在太赫兹频段的应用提供了参考。
关键词:硫化锌;太赫兹;光谱;检测;分析
基金资助:国家自然科学基金(62071312)资助项目