基于纹理消除的液晶屏缺陷检测

来源：电子测量技术杂志2021年第12期北京时间：

作者：汪永勇，侯俊，李梦思，薛彤，肖雄

单位：上海理工大学 光电信息与计算机工程学院 上海 200093

摘要：对液晶屏表面进行缺陷检测时，其表面纵横分布的纹理会对检测精度造成干扰。本文提出了一种液晶屏缺陷检测方法，首先采用基于相对总变差模型的图像结构提取方法抑制液晶屏纹理，该模型对非统一或各向异性的纹理均适用，能有效分解液晶图像中的结构信息和纹理。提取后的结构信息采用High-boost滤波器增强高频分量同时保持低频分量的特性，对图像中的缺陷进行显著性检测。实验结果表明该方法确实有效地抑制了背景纹理信息,同时完整的保留了缺陷信息，实现了液晶屏缺陷的显著性检测并提高了液晶图像的缺陷检测准确性。

关键词：液晶屏纹理;缺陷检测;结构提取;High-boost滤波