结合小波变换和双边滤波的SICM图像降噪算法

来源：电子测量技术杂志2022年第4期北京时间：

作者：陈妍，徐海黎，邢强，庄健

单位：1. 南通大学机械工程学院 南通 226019;2. 西安交通大学机械工程学院 西安 710049

摘要：扫描离子电导显微镜(Scanning Ion Conductance Microscope, SICM)能够实现微纳米级的形貌测量，引起广大学者的关注研究。针对SICM形貌图像易受噪声污染，影响后续应用的问题，提出了一种基于小波分层阈值处理的双边滤波算法。针对SICM形貌图像的多特征融合噪声，采用伪中值滤波局部处理图像中的强斑点噪声，有机结合小波阈值去噪和双边滤波去除图像高频和低频噪声，最终得到去噪效果较好的形貌图像。通过仿真实验和实测实验进行多次验证，本文算法对比中值滤波、双边滤波和小波去噪三种去噪算法，其峰值信噪比提升幅度均大于9.8%。实验表明本文算法在SICM形貌图像去噪方面具有更大优势。

关键词：扫描离子电导显微镜; 融合噪声; 小波阈值去噪; 双边滤波; 图像处理

基金资助：国家自然科学基金面上项目(52175515)；南通市科技项目（JC2021034）