《电子测量技术杂志》发表论文赏析
作者:金大君,粟 涛
单位:中山大学电子与信息工程学院 广州 510006
摘要:为了降低目前的集成电路电磁干扰测试实验成本及风险,提出了一种可以对低阻抗集成电路芯片电源端进行周期性扰动的干扰发生电路。该电路使用低阻抗MOS管作为输出驱动,将多个MOS管连接到不同输出电压值的电源芯片上,使用FPGA控制这些MOS管的开关,能够产生具有一定频率与幅值的周期性扰动波形。以该电路结构制成的干扰器能以板卡的形式插到测试板上,用普通充电器即可供电,相对射频信号源加功率放大器这样的大型装备,其具有体积小、功耗低、操作简单、造价低,安全方便等特点。将干扰器接入用于等效低阻抗待测芯片的负载电路进行电磁干扰实验测试。测试结果表明,干扰器可以对电容值为50pF,电阻值为10Ω的低阻抗负载,在0~30 MHz范围内,产生约1V的电压扰动,在30MHz~80MHz范围内,产生0.5V~1V的电压扰动。
关键词:集成电路; 电磁干扰; 测试设备; 大驱动; 信号发生器
基金资助:广东省重大科技计划项目(2021B110127007,2019B010140002)资助