基于交织编码的抗单粒子翻转加固技术研究

来源：电子测量技术杂志2023年第2期北京时间：

作者：刘金枝，邹彬，周丹阳

单位：1.中国民航大学安全科学与工程学院 天津 300300; 2.中国民航大学民航航空器适航审定技术重点实验室 天津 300300; 3.中国民航大学电子信息与自动化学院 天津 300300

摘要：航空电子设备中静态随机存储器型芯片易受环境中高能粒子辐射发生单粒子翻转，造成关键存储数据遗失严重影响飞机安全，当前系统级加固技术存在纠错能力有限，实用性不强的问题。为增强纠错能力同时提高实用性，本文提出构造最优解循环移位交织器联合(21,16)汉明码的加固方法，纠正多种错误图样的连续4 bit及以下翻转，搭建利用单帧重构技术的故障注入平台来替代粒子辐照实验，无损高效的评估加固设计有效性。实验结果表明采用(21,16)汉明码结合最优循环交织器对抗单粒子相邻多位翻转的加固率平均提高了48.54%，增强了SRAM型存储单元抵御单粒子翻转的性能，保证机载电子系统的安全性。

关键词：SRAM存储单元;交织器;汉明码;单帧重构;单粒子翻转

基金资助：中央高校基本科研业务项目费项目（3122019168）资助