基于邻域信息的细粒度在线适应性测试

来源：电子测量技术杂志2023年第19期北京时间：

作者：汤宇新，梁华国，潘宇琦，易茂祥，鲁迎春

单位：合肥工业大学微电子学院 合肥 230009

摘要：为了解决晶圆测试成本过高的问题，在适应性测试领域已经提出了一些基于空间相关性的质量预测方案。但这些方案大多为了降低成本而牺牲了过多的预测准确度。针对这一问题，提出了一种细粒度质量预测方法。该方法利用故障晶粒邻域率对空间相关性模型预测后的晶粒进行分类，针对不同类型的晶粒选择不同的测试集。此外，在进行晶粒测试集选择前还引入了空间验证步骤，这能够保证整个方案的测试质量。实验结果表明，本方法相较于间接测试方法，平均测试逃逸率降低了83%，平均测试项节省率提升了14%；相较于动态部分平均测试方法，平均测试逃逸率降低了81%，平均测试项节省率提升了17%。

关键词：晶圆测试;适应性测试;空间相关性;质量预测;故障晶粒邻域率

基金资助：国家重大科研仪器研制项目(62027815)、国家自然科学基金重点项目(61834006)资助