航空用片式电阻器硫化失效的工艺控制

来源：电讯技术杂志2025年第7期北京时间：

作者：王玉宝,勾文哲,黄国平,王晓卫

单位：(1.成都天奥电子股份有限公司，成都 610036;2.深圳市振华微电子有限公司，广东 深圳 518000;3.电子科技大学深圳高等研究院，广东 深圳 518000)

摘要：针对航空用片式电阻器在含硫环境中因硫化失效（阻值漂移/开路）导致的航电系统可靠性风险，通过研究揭示了失效的底层机制：玻璃保护层与正面电极结合缺陷使内部银电极暴露，与硫化物反应生成高阻态Ag2S物质。通过失效分析和工艺溯源，明确生产过程中的不当机械应力损伤（如编带环节的立片/斜片）是造成保护层破裂的关键诱因。基于此，提出系统化解决方案，包括电阻制造过程工艺优化、电阻抗硫化设计、封装工艺优化和含硫材料管控。通过上述综合措施的实施并结合加速硫化试验证明，该策略可有效阻断硫侵蚀通道，提升电阻器可靠性。相关研究为航电系统抗硫化失效提供了可落地的工艺控制路径。

关键词：航电系统；片式电阻器；硫化失效；应力损坏；工艺控制；