一种Xilinx FPGA有效配置位保护方法

来源：电讯技术杂志2022年第3期北京时间：

作者：王鹏,刘正清,田毅

单位：(中国民航大学 安全科学与工程学院，天津 300300)

摘要：机载电子设备中广泛采用的静态随机存储器（Static Random Access Memory，SRAM）型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，FPGA）易受到大气中子辐射的影响而发生单粒子翻转。为了提高抗干扰能力，针对SRAM型FPGA需要进行抗单粒子翻转防护，提出了一种Xilinx FPGA有效配置位的保护方法。该方法提取电路中的有效配置位，纠错电路检测到电路中发生单粒子翻转时，纠正有效配置位上发生的翻转。实验表明该方法可以有效保护Xilinx FPGA的有效配置位并提高了纠错电路的效率。

关键词：机载电子设备；单粒子翻转(SEU)；容错方法；有效配置位；

基金资助：中国民航大学实验室创新基金（2020CXJJ42）