平面近场诊断在相控阵天线通道幅相性能测试中的应用
来源：电讯技术杂志2019年第12期北京时间：
作者：杨顺平,朱晓林
单位：(中国西南电子技术研究所，成都 610036;航天系统部 装备部军代局，北京100081)
摘要：传统的平面近场诊断在通道测试时由于互耦，得到的检测值为所有通道叠加的结果，不利于单个通道信息的提取。为了去除互耦，提出了矢量旋转和近场口面诊断相结合的方法，理论上能实现对相控天线单个单元的幅度相位的检测。对该方法进行误差分析，得到了各个误差源对该方法的影响大小。通过实验验证，证明了该方法有效地减小了互耦影响，能提取单个通道的近场、远场信息，并能为相控阵天线通道校准和故障检测提供有效的手段。
关键词：相控阵天线；幅相性能测试；平面近场诊断；矢量旋转；
