多端口T/R组件的单通道噪声系数测试方法
来源：电讯技术杂志2016年第10期北京时间：
作者：杨顺平,杜艳,周太富
单位：(中国西南电子技术研究所，成都 610036)
摘要：多端口T/R组件输出端口的噪声由各个通道共同决定，要测试单独通道的噪声系数非常困难。提出了一种基于衰减器改变的多端口TR组件单通道噪声系数测试方法，消除了其他通道的噪声影响，实现了对单独通道噪声系数的测试。通过测试一个8通道T/R组件的各个通道噪声系数，与单独通道测试结果进行了对比，两种方法测试结果最大差异为0.08 dB，验证了该方法可以很准确地测量多端口网络的单通道噪声系数。
关键词：相控阵；T/R组件；多端口；单通道噪声系数测试；
