基于光电测量的船载测控天线副反射面位置检测
来源：电讯技术杂志2016年第9期北京时间：
作者：刘四方,梁盛,李培,刘向前
单位：(中国卫星海上测控部,江苏 江阴 214431)
摘要：为消除馈源偏焦对天线跟踪性能的影响，首先，介绍了格里高利天线的结构及原理，分析了馈源偏焦对天线性能的影响；其次，采用光电测量原理，提出了基于光学检测的副反射面和馈源相对位置变化检测方法，通过比对测量电压值与标称电压值，从而为判断馈源是否偏焦提供依据，为设备问题的分析判断及故障的排查提供保障；最后，进行了半实物仿真实验，通过实验数据分析，结果表明该方法是有效的。
关键词：船载测控系统；测控天线；副反射面位置检测；馈源偏焦；
